电子元件查询网 ->> 电子元器件产品 ->> SN74BCT8374ADWRE4
SN74BCT8374ADWRE4的功能、参数、电路图、封装、引脚图、PDF资料
SN74BCT8374ADWRE4中文资料
功能介紹 中文 :
功能介紹 英文 : SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
品牌 : Texas Instruments
封装 :
引脚 :
Datasheet PDF
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功能介紹 英文 : SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
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